Scanning Elektronenmicroscopie (SEM)

Bij Scanning Elektronenmicroscopie (SEM) wordt de elektronenstraal samengebonden op het gehele materiaal, dat wordt onderzocht. Volgens een bepaald raster wordt de ondergrond versneld onderzocht. De versnelspanning ligt tussen de 100 V en 30 kV. Met SEM zijn vergrotingen tot 100.000 keer mogelijk. Dankzij het grote formaat vormt er een sterk driedimensionaal effect.

De scan is in één kleur te zien (monochromatisch). Dit komt omdat er maar één bepaalde energie wordt gebruikt en de waarden dus automatisch in één bepaalde kleur op de foto worden omgezet. Eventueel kan later de opname worden ingekleurd middels beeldbewerking. In de industrie wordt SEM vaak gebruikt voor het detecteren van asbestvezels en keramische vezels.

Een andere term die vaak voor Scanning elektronenmicroscopie wordt gebruikt, is rasterelektronenmicroscopie, omdat de microscoop een bepaalde raster afgaat. De Engelsen gebruiken de term Scanning Electron Microscopy.

Een andere manier dan SEM voor het bepalen van de chemische samenstelling van de aanwezige materialen, is het gebruik van Energie Dispersief X-ray Spectroscopie (EDX).